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Fundamental principles of engineering nanometrology

Détails bibliographiques
Auteur principal: Leach, Richard (Auteur)
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: Amsterdam, Elsevier 2014.
Édition:2nd ed.
Sujets:

PHY

Informations d'exemplaires de PHY
Cote: 620.50287 LEA
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