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Fundamental principles of engineering nanometrology
| Autor principal: | |
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| Formato: | Printed Book |
| Lenguaje: | English |
| Publicado: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
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| Edición: | 2nd ed. |
| Materias: |
PHY
| Número de Clasificación: |
620.50287 LEA |
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| Copia | Estatus de actividad no disponible |