Ładuje się......
Fundamental principles of engineering nanometrology
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
|
| Wydanie: | 2nd ed. |
| Hasła przedmiotowe: |
PHY
| Sygnatura: |
620.50287 LEA |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |