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Fundamental principles of engineering nanometrology
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
|
| Ausgabe: | 2nd ed. |
| Schlagworte: |
PHY
| Signatur: |
620.50287 LEA |
|---|---|
| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |