Ładuje się......

Fundamental principles of engineering nanometrology

Opis bibliograficzny
1. autor: Leach, Richard (Autor)
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: Amsterdam, Elsevier 2014.
Wydanie:2nd ed.
Hasła przedmiotowe:
Opis
Opis fizyczny:xxi, 361 p.
ISBN:9781455777532