Wordt geladen...
Fundamental principles of engineering nanometrology
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Amsterdam,
Elsevier
2014.
|
| Editie: | 2nd ed. |
| Onderwerpen: |
| Fysieke beschrijving: | xxi, 361 p. |
|---|---|
| ISBN: | 9781455777532 |