Загрузка...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
Cochin:
Cochin University of Science and Techonology,
2004.
|
| Предметы: |
PHY
| Шифр: |
PH. D |
|---|---|
| Копировать | Недоступно состояние Live" What does mean the status Live (working) |