Ładuje się......
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
Cochin:
Cochin University of Science and Techonology,
2004.
|
| Hasła przedmiotowe: |
PHY
| Sygnatura: |
PH. D |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |