Wordt geladen...
Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Andere auteurs: | |
| Formaat: | Printed Book |
| Taal: | English |
| Gepubliceerd in: |
Cochin:
Cochin University of Science and Techonology,
2004.
|
| Onderwerpen: |
PHY
| Plaatsingsnummer: |
PH. D |
|---|---|
| Kopie | Status is onbeschikbaar |