Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy

מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Paulraj, M.
מחברים אחרים: Vijayakumar, K. P (Guide)
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Cochin: Cochin University of Science and Techonology, 2004.
נושאים:
Thin film

PHY

פרטי מלאי ספרים מ PHY
סימן המיקום: PH. D
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים