Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Paulraj, M.
مؤلفون آخرون: Vijayakumar, K. P (Guide)
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Cochin: Cochin University of Science and Techonology, 2004.
الموضوعات:
Thin film

PHY

تفاصيل المقتنيات من PHY
رقم الطلب: PH. D
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة