Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy

Gelijkaardige items

• Photothermal beam deflection for non-destructive evaluation of semiconductor thin films (Thesis)
  door: Anitha R Warrier
  Gepubliceerd in: (2010)
• Non-destructive evaluation of ion implanted semiconducfor thin films using photothermal deflection spectrosco
  door: Paulraj, M.
  Gepubliceerd in: (2004)
• Preparation and characterization of Ag2Se and AgInSe2 thin films: effects of electron irradiation and ion implantation
  door: Santhosh Kumar, M. C.
  Gepubliceerd in: (2002)
• Thin film physics
  door: Heavens, O. S.
  Gepubliceerd in: (1970)
• Thin film fundamentals
  door: Goswami, A
  Gepubliceerd in: (1996)