Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy

Chi tiết về thư mục
Tác giả chính: Paulraj, M.
Tác giả khác: Vijayakumar, K. P (Guide)
Định dạng: Printed Book
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Cochin: Cochin University of Science and Techonology, 2004.
Những chủ đề:
Thin film

PHY

Chi tiết quỹ từ PHY
Số hiệu: PH. D
Sao chép Trạng thái trực tiếp không khả dụng

Những quyển sách tương tự