লোডিং...

Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক:	Paulraj, M.
অন্যান্য লেখক:	Vijayakumar, K. P (Guide)
বিন্যাস:	Printed Book
ভাষা:	English
প্রকাশিত:	Cochin: Cochin University of Science and Techonology, 2004.
বিষয়গুলি:	Thin film

বিবরন
দৈহিক বর্ননা:	Ph. D

অনুরূপ উপাদানগুলি