Paulraj, M., & Vijayakumar, K. P. (2004). Non-destructive evaluation of ion implanted semiconductor thin films using photothermal deflection spectroscopy. Cochin University of Science and Techonology.
Trích dẫn kiểu ChicagoPaulraj, M., và K. P. Vijayakumar. Non-destructive Evaluation of Ion Implanted Semiconductor Thin Films Using Photothermal Deflection Spectroscopy. Cochin: Cochin University of Science and Techonology, 2004.
Trích dẫn MLAPaulraj, M., và K. P. Vijayakumar. Non-destructive Evaluation of Ion Implanted Semiconductor Thin Films Using Photothermal Deflection Spectroscopy. Cochin University of Science and Techonology, 2004.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.