A carregar...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Autor principal: | |
|---|---|
| Outros Autores: | |
| Formato: | Printed Book |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Cochin:
Cochin University of Science and Technology,
2004.
|
| Assuntos: |
PHY
| Área/Cota: |
PH. D |
|---|---|
| Cód. Barras: | Informação em tempo real indisponível |