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Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

書誌詳細
第一著者: Rupa, R. Pai
その他の著者: Sudha Kartha, C (Guide)
フォーマット: Printed Book
言語:English
出版事項: Cochin: Cochin University of Science and Technology, 2004.
主題:

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