Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Rupa, R. Pai
מחברים אחרים: Sudha Kartha, C (Guide)
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: Cochin: Cochin University of Science and Technology, 2004.
נושאים:
Thin films > Thermally stimulated current

PHY

פרטי מלאי ספרים מ PHY
סימן המיקום: PH. D
עותק סטטוס עדכני לא זמין

פריטים דומים