Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements

other_versions_link
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Rupa, R. Pai
مؤلفون آخرون: Sudha Kartha, C (Guide)
التنسيق: Printed Book
اللغة:English
منشور في: Cochin: Cochin University of Science and Technology, 2004.
الموضوعات:
Thin films > Thermally stimulated current

PHY

تفاصيل المقتنيات من PHY
رقم الطلب: PH. D
النسخة الحالة المباشرة غير متاحة

مواد مشابهة