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Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| Autore principale: | Rupa, R. Pai |
|---|---|
| Altri autori: | Sudha Kartha, C (Guide) |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
Cochin:
Cochin University of Science and Technology,
2004.
|
| Soggetti: |
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