טוען...
Analysis and identification of traps in some binary semiconducting thin films using thermally stimulated current measurements
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| מחברים אחרים: | |
| פורמט: | Printed Book |
| שפה: | English |
| יצא לאור: |
Cochin:
Cochin University of Science and Technology,
2004.
|
| נושאים: |