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The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
主要作者: | |
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其他作者: | |
格式: | Printed Book |
語言: | English |
出版: |
New York:
Academic Press,
1990
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叢編: | Techniques of physics;
13 |
主題: |
PHY
索引號: |
621.381/52 ORT |
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復印件 | Live Status Unavailable |