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The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| Autore principale: | |
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| Altri autori: | |
| Natura: | Printed Book |
| Lingua: | English |
| Pubblicazione: |
New York:
Academic Press,
1990
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| Serie: | Techniques of physics;
13 |
| Soggetti: |
PHY
| Collocazione: |
621.381/52 ORT |
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| Copia | Status in tempo reale non disponibile |