טוען...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
מחבר ראשי: | |
---|---|
מחברים אחרים: | |
פורמט: | Printed Book |
שפה: | English |
יצא לאור: |
New York:
Academic Press,
1990
|
סדרה: | Techniques of physics;
13 |
נושאים: |
PHY
סימן המיקום: |
621.381/52 ORT |
---|---|
עותק | סטטוס עדכני לא זמין |