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The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
Auteur principal: | |
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Autres auteurs: | |
Format: | Printed Book |
Langue: | English |
Publié: |
New York:
Academic Press,
1990
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Collection: | Techniques of physics;
13 |
Sujets: |
PHY
Cote: |
621.381/52 ORT |
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