Lataa...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
Päätekijä: | |
---|---|
Muut tekijät: | |
Aineistotyyppi: | Printed Book |
Kieli: | English |
Julkaistu: |
New York:
Academic Press,
1990
|
Sarja: | Techniques of physics;
13 |
Aiheet: |
PHY
Hyllypaikka: |
621.381/52 ORT |
---|---|
Nide | Reaaliaikaista tietoa ei saatavissa |