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The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Schriftenreihe: | Techniques of physics;
13 |
| Schlagworte: |
PHY
| Signatur: |
621.381/52 ORT |
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| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |