Ładuje się......
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| 1. autor: | |
|---|---|
| Kolejni autorzy: | |
| Format: | Printed Book |
| Język: | English |
| Wydane: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Seria: | Techniques of physics;
13 |
| Hasła przedmiotowe: |
PHY
| Sygnatura: |
621.381/52 ORT |
|---|---|
| Egzemplarz | Możliwość dostępu nieznana |