Загрузка...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| Главный автор: | |
|---|---|
| Другие авторы: | |
| Формат: | Printed Book |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Серии: | Techniques of physics;
13 |
| Предметы: |
| Объем: | xvii,291p. |
|---|---|
| ISBN: | 0125286252 |