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The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| 1. Verfasser: | |
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| Weitere Verfasser: | |
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York:
Academic Press,
1990
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| Schriftenreihe: | Techniques of physics;
13 |
| Schlagworte: |
| Beschreibung: | xvii,291p. |
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| ISBN: | 0125286252 |