Načítá se...
The electrical characterization of semiconductors : measurement of minority carrier properties
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Další autoři: | |
| Médium: | Printed Book |
| Jazyk: | English |
| Vydáno: |
New York:
Academic Press,
1990
|
| Edice: | Techniques of physics;
13 |
| Témata: |
| Fyzický popis: | xvii,291p. |
|---|---|
| ISBN: | 0125286252 |