Ładuje się......

Structure and properties of thin films; proceedings.

Opis bibliograficzny
Korporacja: International Conference on Structure and Properties of Thin Films Bolton Landing, N.Y.
Kolejni autorzy: Neugebauer, C. A., ed
Format: Printed Book
Język:English
Wydane: New York, Wiley [c1959]
Hasła przedmiotowe:

PHY

Szczegóły zapisu PHY
Sygnatura: 541.3453 STR*
Egzemplarz Możliwość dostępu nieznana