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Structure and properties of thin films; proceedings.

Détails bibliographiques
Collectivité auteur: International Conference on Structure and Properties of Thin Films Bolton Landing, N.Y.
Autres auteurs: Neugebauer, C. A., ed
Format: Printed Book
Langue:English
Publié: New York, Wiley [c1959]
Sujets:

PHY

Informations d'exemplaires de PHY
Cote: 541.3453 STR*
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