Načítá se...

Structure and properties of thin films; proceedings.

Podrobná bibliografie
Korporativní autor: International Conference on Structure and Properties of Thin Films Bolton Landing, N.Y.
Další autoři: Neugebauer, C. A., ed
Médium: Printed Book
Jazyk:English
Vydáno: New York, Wiley [c1959]
Témata:

PHY

Informace o exemplářích z: PHY
Signatura: 541.3453 STR*
Jednotka Neznámá aktuální dostupnost