Structure and properties of thin films; proceedings.

Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: International Conference on Structure and Properties of Thin Films Bolton Landing, N.Y.
Otros Autores: Neugebauer, C. A., ed
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: New York, Wiley [c1959]
Materias:
Thin films > Congresses

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