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Structure and properties of thin films; proceedings.

Detalhes bibliográficos
Autor Corporativo: International Conference on Structure and Properties of Thin Films Bolton Landing, N.Y.
Outros Autores: Neugebauer, C. A., ed
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: New York, Wiley [c1959]
Assuntos:

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Detalhes do Exemplar PHY
Área/Cota: 541.3453 STR*
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