Semiconductor material and device characterization /

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Dettagli Bibliografici
Autore principale: Schroder, Dieter K.
Natura: Printed Book
Lingua:English
Pubblicazione: New York : Wiley, c1998.
Edizione:2nd ed.
Soggetti:
Semiconductors > Semiconductors--Testing

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Collocazione: 621.3815/2 SCH
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