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Semiconductor material and device characterization /
| Auteur principal: | |
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| Format: | Printed Book |
| Langue: | English |
| Publié: |
New York :
Wiley,
c1998.
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| Édition: | 2nd ed. |
| Sujets: |
PHY
| Cote: |
621.3815/2 SCH |
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| Exemplaire | Statut en temps réel indisponible |