Semiconductor material and device characterization /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schroder, Dieter K.
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: New York : Wiley, c1998.
Edición:2nd ed.
Materias:
Semiconductors > Semiconductors--Testing

PHY

Detalle de Existencias desde PHY
Número de Clasificación: 621.3815/2 SCH
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