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Semiconductor material and device characterization /
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Printed Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York :
Wiley,
c1998.
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| Ausgabe: | 2nd ed. |
| Schlagworte: |
PHY
| Signatur: |
621.3815/2 SCH |
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| Exemplar | Live-Status nicht verfügbar |