Semiconductor material and device characterization /

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Schroder, Dieter K.
Formato: Printed Book
Lenguaje:English
Publicado: New York : Wiley, c1998.
Edición:2nd ed.
Materias:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
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Semiconductor material and device characterization /
por Schroder, Dieter K.
Publicado 2006
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