Semiconductor material and device characterization /

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书目详细资料
主要作者: Schroder, Dieter K.
格式: Printed Book
语言:English
出版: New York : Wiley, c1998.
版:2nd ed.
主题:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
实物特征
实物描述:xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0471241393

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