Semiconductor material and device characterization /

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書目詳細資料
主要作者: Schroder, Dieter K.
格式: Printed Book
語言:English
出版: New York : Wiley, c1998.
版:2nd ed.
主題:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
實物特徵
實物描述:xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0471241393

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