Semiconductor material and device characterization /

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Detalhes bibliográficos
Autor principal: Schroder, Dieter K.
Formato: Printed Book
Idioma:English
Publicado em: New York : Wiley, c1998.
Edição:2nd ed.
Assuntos:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
Descrição
Descrição Física:xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0471241393

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