Semiconductor material and device characterization /

other_versions_link
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Schroder, Dieter K.
פורמט: Printed Book
שפה:English
יצא לאור: New York : Wiley, c1998.
מהדורה:2nd ed.
נושאים:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
תיאור
תיאור פיזי:xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0471241393

פריטים דומים