Semiconductor material and device characterization /

other_versions_link
Bibliografiset tiedot
Päätekijä: Schroder, Dieter K.
Aineistotyyppi: Printed Book
Kieli:English
Julkaistu: New York : Wiley, c1998.
Painos:2nd ed.
Aiheet:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
Kuvaus
Ulkoasu:xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0471241393

Samankaltaisia teoksia