Semiconductor material and device characterization /

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Schroder, Dieter K.
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York : Wiley, c1998.
Ausgabe:2nd ed.
Schlagworte:
Semiconductors > Semiconductors--Testing
Beschreibung
Beschreibung:xxiv, 760 p. : ill. ; 25 cm.
ISBN:0471241393

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