Schroder, D. K. (1998). Semiconductor material and device characterization (2nd ed.). Wiley.
Chicago-tyylinen lähdeviittausSchroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 2nd ed. New York: Wiley, 1998.
MLA-viiteSchroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 2nd ed. Wiley, 1998.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.