Schroder, D. K. (1998). Semiconductor material and device characterization (2nd ed.). Wiley.
استشهاد بنمط شيكاغوSchroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 2nd ed. New York: Wiley, 1998.
MLA استشهادSchroder, Dieter K. Semiconductor Material and Device Characterization. 2nd ed. Wiley, 1998.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.