טוען...

QR Code

Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A. /

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:	Mahajan, Subhash., ed, Corbett, James W., ed
פורמט:	Printed Book
שפה:	English
יצא לאור:	New York : North-Holland, c1983.
סדרה:	Materials research society symposia proceedings;
נושאים:	Semiconductors > Defects > Congresses.

פריטים דומים

Defects in semiconductors : proceedings of the Materials Research Society Annual Meeting, November 1980, Copley Plaza Hotel, Boston, Massachusetts, U.S.A. /
יצא לאור: (1981)

Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures /
מאת: Holt, D. B.
יצא לאור: (2007)

Photoinduced defects in semiconductors
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996)

Photoinduced defects in semiconductors /
מאת: Redfield, David
יצא לאור: (1996)

Extended defects in semiconductors: electronic properties, device effects and structures
מאת: Holt, D. B. and Yacobi, B. G.
יצא לאור: (2007)

Defects control in semiconductors : proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors, The Yokohama 21st century forum, Yokohama, Japan, Sept. 17-22: 1989
מאת: Sumib, K. [ed.]
יצא לאור: (1990)

Defect recognition and image processing in semiconductors 1997 : proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 /
יצא לאור: (1998)

Point defects in solids. 3v.; v1. general and ionic crystals
מאת: Crawford, James Homer
יצא לאור: (1972)

Colour centres and imperfections in insulators and semiconductors
מאת: Townsend, P D; Kelly, J C
יצא לאור: (1973)

The structure and properties of crystal defects : proceedings of the Symposium on the Structure and Properties of Crystal Defects, Liblice, Czechoslovakia, June 13-17, 1983 /
יצא לאור: (1984)

Photoinduced defects in semiconductors
מאת: Redfield,David
יצא לאור: (1996)

Laser diagnostics and photochemical processing for semiconductor devices : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A. /
יצא לאור: (1983)

Semiconductor technology : processing and novel fabrication techniques /
יצא לאור: (1997)

Defects control in semiconductors: Proceedings of the conference on the science and technology of defect control in semiconductors,...
יצא לאור: (1990)

The chemistry of extended defects in non-metallic solids. Proceedings of the Institute for Advanced Study on the Chemistry of Extended Defects in Non-Metallic Solids, Casa Blanca Inn, Scottsdale, Arizona, April 16-26, 1969.
יצא לאור: (1970)

DEFECTS AND DEFECT PROCESSES IN NONMETALLIC SOLIDS
מאת: HAYES W & STONEHAM A M
יצא לאור: (1985)

Point defects and defect intraction in metals
מאת: Takamura, Jin-Ichi, Ed., et al
יצא לאור: (1982)

The Politics Of Defection
מאת: Subhash Kashyap,C
יצא לאור: (1969)

Transition metal impurities in semiconductors /
מאת: Omelianovskii, Ė. M.
יצא לאור: (1986)

Technology of building defects
מאת: Hinke, John
יצא לאור: (1997)

Symmetry and strain-induced effects in semiconductors
מאת: Bir, Gennadii Levikovich
יצא לאור: (1974)

Defect crystal chemistry and its applications /
מאת: Tilley, R. J. D.
יצא לאור: (1987)

Defect crystal chemistry and its applications /
מאת: Tilley, R. J. D.
יצא לאור: (1987)

Point defects in crystals /
מאת: Watts, R. K. (Roderick K.), 1939-
יצא לאור: (1977)

Point defects in metals
מאת: Damask, A C; Dienes, G J
יצא לאור: (1963)

Point defects and diffusion
מאת: Flynn, C P
יצא לאור: (1972)

Thin films and interfaces II : symposium held November 1983, in Boston, Massachusetts, U.S.A., v. 25 /
יצא לאור: (1984)

Dopants and defects in semiconductors
מאת: McCluskey, Mathew D
יצא לאור: (2012)

Manual of Anti-Defection Laws
מאת: Murali Purushothaman

Crystal defects and crystalline interfaces
מאת: Bollmann, W
יצא לאור: (1970)

Point defects in metals II: dynamical properties and diffusion controlled reactions
מאת: Dederichs, P. H.
יצא לאור: (1978)

Point defects and diffusion
מאת: Flynn, C P
יצא לאור: (1972)

Common defects in buildings
מאת: Eldridge, H.J
יצא לאור: (1976)

Crystallography and crystal defects /
מאת: Kelly, A. (Anthony)
יצא לאור: (2012)

CRYSTALLOGRAPHY AND CRYSTAL DEFECTS
מאת: KELLY A
יצא לאור: (2000)

Defect electronics in semiconductors
מאת: Matare, Herbert F
יצא לאור: (1971)

Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] /
יצא לאור: (1980)

Point defects in solids, Vol.1: General and ionic crystals
מאת: Crawford, James H, Ed.; Slifkin, Lawrence M, Ed
יצא לאור: (1972)

Principles of defect chemistry of crystalline solids
מאת: Gool, W. Van
יצא לאור: (1966)

Semiconductor optoelectronics /
יצא לאור: (1978)