Defects in semiconductors II : symposium held November 1982 in Boston, Massachusetts, U.S.A. /

Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Mahajan, Subhash., ed, Corbett, James W., ed
Format: Printed Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York : North-Holland, c1983.
Schriftenreihe:Materials research society symposia proceedings;
Schlagworte:
Semiconductors > Defects > Congresses.

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Signatur: 537.6/22 MAH
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